Estás en:
1. Inicio 
2. Libros 
3. Libros 

Libros de Pierre Richard Dahoo Philippe Pougnet Abdelkhalak El Hami

Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems) (en Inglés)

Pierre-Richard Dahoo; Philippe Pougnet; Abdelkhalak El Hami

John Wiley & Sons Inc, 2016, 1 edición, Tapa Dura, Nuevo

Envío GRATIS

16%

dcto.

$ 177.95

$ 149.85

1 día

AgregadoAgregar al carroVer detalle

Empezar a leer

Se han encontrado pocos libros. Puedes repetir la búsqueda sin exigir que estén presentes todos los términos buscados.