Libros importados hasta 50% OFF + Envío Gratis a todo USA  Ver más

menú

0
  • argentina
  • chile
  • colombia
  • españa
  • méxico
  • perú
  • estados unidos
  • internacional
portada Statistical Modeling for Computer-Aided Design of Mos VLSI Circuits (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Idioma
Inglés
N° páginas
190
Encuadernación
Tapa Blanda
Dimensiones
23.4 x 15.6 x 1.1 cm
Peso
0.30 kg.
ISBN13
9781461363798

Statistical Modeling for Computer-Aided Design of Mos VLSI Circuits (en Inglés)

Mohammed Ismail (Autor) · Christopher Michael (Autor) · Springer · Tapa Blanda

Statistical Modeling for Computer-Aided Design of Mos VLSI Circuits (en Inglés) - Michael, Christopher ; Ismail, Mohammed

Libro Físico

$ 104.20

$ 109.99

Ahorras: $ 5.79

5% descuento
  • Estado: Nuevo
Se enviará desde nuestra bodega entre el Martes 02 de Julio y el Miércoles 03 de Julio.
Lo recibirás en cualquier lugar de Estados Unidos entre 1 y 3 días hábiles luego del envío.

Reseña del libro "Statistical Modeling for Computer-Aided Design of Mos VLSI Circuits (en Inglés)"

As MOS devices are scaled to meet increasingly demanding circuit specifications, process variations have a greater effect on the reliability of circuit performance. For this reason, statistical techniques are required to design integrated circuits with maximum yield. Statistical Modeling for Computer-Aided Design of MOS VLSI Circuits describes a statistical circuit simulation and optimization environment for VLSI circuit designers. The first step toward accomplishing statistical circuit design and optimization is the development of an accurate CAD tool capable of performing statistical simulation. This tool must be based on a statistical model which comprehends the effect of device and circuit characteristics, such as device size, bias, and circuit layout, which are under the control of the circuit designer on the variability of circuit performance. The distinctive feature of the CAD tool described in this book is its ability to accurately model and simulate the effect in both intra- and inter-die process variability on analog/digital circuits, accounting for the effects of the aforementioned device and circuit characteristics. Statistical Modeling for Computer-Aided Design of MOS VLSI Circuits serves as an excellent reference for those working in the field, and may be used as the text for an advanced course on the subject.

Opiniones del libro

Ver más opiniones de clientes
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)
  • 0% (0)

Preguntas frecuentes sobre el libro

Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.
El libro está escrito en Inglés.
La encuadernación de esta edición es Tapa Blanda.

Preguntas y respuestas sobre el libro

¿Tienes una pregunta sobre el libro? Inicia sesión para poder agregar tu propia pregunta.

Opiniones sobre Buscalibre

Ver más opiniones de clientes