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portada progress in materials analysis: vol. 2: proceedings of the 12th colloquium on materials analysis institute for analytical chemistry, technical univers (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Año
1986
Idioma
Inglés
N° páginas
382
Encuadernación
Tapa Blanda
Dimensiones
22.9 x 15.2 x 2.1 cm
Peso
0.53 kg.
ISBN
3211819053
ISBN13
9783211819050

progress in materials analysis: vol. 2: proceedings of the 12th colloquium on materials analysis institute for analytical chemistry, technical univers (en Inglés)

M. Grasserbauer (Ilustrado por) · W. Wegscheider (Ilustrado por) · Springer · Tapa Blanda

progress in materials analysis: vol. 2: proceedings of the 12th colloquium on materials analysis institute for analytical chemistry, technical univers (en Inglés) - Grasserbauer, M. ; Wegscheider, W.

Libro Físico

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Reseña del libro "progress in materials analysis: vol. 2: proceedings of the 12th colloquium on materials analysis institute for analytical chemistry, technical univers (en Inglés)"

Vol. 2 of "Progress in Materials Analysis" contains the lectures of the 12th Colloquium on Materials Analysis, Vienna, May 13-15, 1985. Due to the top level international participation from industry and research insti- tutions the proceedings offer a survey of the present state and current trends in materials analysis of high actuality. The major topics covered are surface, micro and trace analysis of materials with a special emphasis on metals but also including other materials like ceramics, semiconductors, polymers. According to the strategy of the meeting attention is focussed on an interdisciplinary approach to materials science - combining analytical chemistry, solid state physics and technol- ogy. Therefore progress reports on modern analytical technique like SIMS, SNMS, AES, XPS, Positron Annihilation Spectroscopy, EPMA, STEM, LAMMS, etc. are contained as well as presentations on the development of materials. The majority of the contributions centers on the treatment of important problems in materials science and technology by a (mostly sophisticated) combination of physical and chemical analytical techniques. Vienna, July 1985 M. Grasserbauer Contents Page Hercules, D. M. Surface Characterization of Thin Organic Films on Metals ............................................. .

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